Регистрация пройдена успешно!
Пожалуйста, перейдите по ссылке из письма, отправленного на

Около 1,6 тыс чиновников Москвы в 2016 году проверят на детекторе лжи

Порядка 1,6 тысячи государственных служащих в Москве пройдут проверку на полиграфе и анализаторе голосового стресса ("К-фактор") в 2016 году. Это стало обязательной частью программы по профилактике коррупции.

МОСКВА, 1 февраля — РИА Новости. Порядка 1,6 тысячи государственных служащих в Москве пройдут проверку на полиграфе и анализаторе голосового стресса ("К-фактор") в 2016 году, говорится в сообщении столичного департамента по конкурентной политике.

"Проверка на полиграфе стала обязательной частью программы по профилактике коррупции. Особое внимание уделяется тестированию тех, кто работает в системе закупок. Наряду с проверками на полиграфе, введена регулярная ротация членов закупочных комиссий", — приводятся в нем слова заммэра Москвы по вопросам экономической политики и имущественно-земельных отношений Натальи Сергуниной.

Одной из новаций 2016 года станет применение специализированного теста на голосовом анализаторе "К-фактор", разработанного для проверки специалистов, участвующих в закупках. В экспериментальном режиме метод анализа голоса применялся в 2015 году. В этом году в перечень вопросов добавили отдельную категорию – для служащих, занятых в сфере госзакупок. Теперь проверяющие могут еще эффективнее выявлять коррупционные риски. Так в 2016 году проверку на голосовом анализаторе "К-фактор" предстоит пройти 300 государственным служащим, отмечается в материале.

В 2015 году проверку на полиграфе прошли 1775 чиновников: 94% из них — успешно либо с незначительными факторами риска, в 6% случаев были отмечены факторы риска коррупционной направленности, добавляется в нем.

Рекомендуем
Логотип корпорации Макдоналдс
McDonald's открыл в России первое заведение без посетителей
Лента новостей
0
Сначала новыеСначала старые
loader
Онлайн
Заголовок открываемого материала
Чтобы участвовать в дискуссии
авторизуйтесь или зарегистрируйтесь
loader
Чаты
Заголовок открываемого материала